Способ определения положения локальных энергетических уровней в запрещенной зоне полупроводника

dc.contributor.authorКовальов, Леонід Євгенійович
dc.contributor.authorKovalyov, L. E.
dc.date.accessioned2016-01-28T15:33:53Z
dc.date.available2016-01-28T15:33:53Z
dc.date.issued1990
dc.description.abstractСогласно способу осуществляют предварительное возбуждение полупроводника облучением светом с различными длинами волн из области фоточувствительности и последующее облучение полупроводника излучением с длинами волн, не равными длине волны предварительного облучения.uk_UA
dc.identifier.citationКовалев Л. Е. и др. А.с. 1597039 СССР, МКИ5 H 01 L 21/66 Способ определения положения локальных энергетических уровней в запрещенной зоне полупроводника / (СССР). № 4604171/31-25; Заявл. 9.11.88; Опубл. 1.06.90.uk_UA
dc.identifier.urihttp://lib.udau.edu.ua/handle/123456789/2046
dc.language.isoru_RUuk_UA
dc.publisherВНИИПИuk_UA
dc.subjectполупроводникuk_UA
dc.subjectфотоемкостьuk_UA
dc.subjectлокальный уровеньuk_UA
dc.subjectрелаксационная зависимостьuk_UA
dc.subjectфотопроводимостьuk_UA
dc.subjectспектральная зависимостьuk_UA
dc.titleСпособ определения положения локальных энергетических уровней в запрещенной зоне полупроводникаuk_UA
dc.typeНормативний документuk_UA
Files
Original bundle
Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
A_S_039.pdf
Size:
860.84 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
License bundle
Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
license.txt
Size:
7.14 KB
Format:
Item-specific license agreed upon to submission
Description: